Rino Micheloni, Giovanni Campardo, Piero Olivo
Memorie in sistemi wireless
Pagine: 352
ISBN: 9788846467799
Edizione: 1a edizione 2005
Codice editore: 1340.73
Disponibilità: Discreta
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La rapidissima penetrazione della telefonia cellulare nel mercato e nelle abitudini delle persone è stata accompagnata da una altrettanto rapida (e necessaria) evoluzione tecnologica dei telefoni cellulari stessi: la riduzione delle dimensioni, lo sviluppo di nuovi servizi, il livello di affidabilità richiesto, i tempi estremamente ridotti per la progettazione di nuovi sistemi, la concorrenza tra i pochi produttori sopravissuti in una competizione feroce per la conquista di quote di mercato hanno pilotato negli ultimi anni lo sviluppo tecnologico nel campo dei circuiti integrati, delle memorie a semiconduttore, degli applicativi software...
Allo sviluppo tecnologico di nuovi componenti elettronici si devono accompagnare gli studi avanzati per ottimizzare la loro gestione software e per poter valutare i loro limiti di funzionamento e la ricerca scientifica e tecnologica su memorie non volatili basate su concetti fisici innovativi.
Il volume è pensato sia come testo guida per un corso di tecnologie elettroniche, sia come compendio ai normali corsi di elettronica. Gli argomenti presentati, difficilmente reperibili ordinati e commentati in un volume unico, costituiscono un valido approfondimento anche a lettori già operanti nel campo dell'elettronica.
Considerando il telefono cellulare come un sistema elettronico complesso, il testo ne esamina i vari componenti fondamentali e ne approfondisce uno in particolare: la memoria non volatile. Il libro si sviluppa seguendo il filo conduttore della memoria non volatile all'interno del sistema wireless, cercando da una parte di approfondire alcuni dei temi interdisciplinari che devono essere conosciuti e analizzati al fine di garantire il corretto funzionamento del sistema e la sua affidabilità nel tempo, ma anche affrontando alcune problematiche fondamentali che non possono essere trascurate quando ci si appresta alla realizzazione e industrializzazione di un sistema.
Il testo passa in rassegna le problematiche che vanno dal sistema cellulare, all'analisi delle differenze fra le principali tipologie di memorie non volatili, sia quelle in produzione che quelle emergenti. Si analizzano le memory card, le tecniche di multichip e poi gli algoritmi di gestione software delle memorie non volatili e quelli di correzione d'errore. Sono presentate le tecniche di affidabilità su scheda e per i singoli componenti e infine una guida alla lettura dei Datasheet.
Rino Micheloni e Giovanni Campardo sono responsabili di progetto all'interno di STMicroelectronics. Piero Olivo è docente di Elettronica all'Università di Ferrara.
Allo sviluppo tecnologico di nuovi componenti elettronici si devono accompagnare gli studi avanzati per ottimizzare la loro gestione software e per poter valutare i loro limiti di funzionamento e la ricerca scientifica e tecnologica su memorie non volatili basate su concetti fisici innovativi.
Il volume è pensato sia come testo guida per un corso di tecnologie elettroniche, sia come compendio ai normali corsi di elettronica. Gli argomenti presentati, difficilmente reperibili ordinati e commentati in un volume unico, costituiscono un valido approfondimento anche a lettori già operanti nel campo dell'elettronica.
Considerando il telefono cellulare come un sistema elettronico complesso, il testo ne esamina i vari componenti fondamentali e ne approfondisce uno in particolare: la memoria non volatile. Il libro si sviluppa seguendo il filo conduttore della memoria non volatile all'interno del sistema wireless, cercando da una parte di approfondire alcuni dei temi interdisciplinari che devono essere conosciuti e analizzati al fine di garantire il corretto funzionamento del sistema e la sua affidabilità nel tempo, ma anche affrontando alcune problematiche fondamentali che non possono essere trascurate quando ci si appresta alla realizzazione e industrializzazione di un sistema.
Il testo passa in rassegna le problematiche che vanno dal sistema cellulare, all'analisi delle differenze fra le principali tipologie di memorie non volatili, sia quelle in produzione che quelle emergenti. Si analizzano le memory card, le tecniche di multichip e poi gli algoritmi di gestione software delle memorie non volatili e quelli di correzione d'errore. Sono presentate le tecniche di affidabilità su scheda e per i singoli componenti e infine una guida alla lettura dei Datasheet.
Rino Micheloni e Giovanni Campardo sono responsabili di progetto all'interno di STMicroelectronics. Piero Olivo è docente di Elettronica all'Università di Ferrara.
Rino Micheloni, Giovanni Campardo, Piero Olivo, Introduzione
Piattaforme Hardware per terminali mobili di terza generazione
(Introduzione; Le unità d'elaborazione; Il sistema di memoria; Il display; Il transceiver; Il bus; Conclusioni; Bibliografia)
Memorie non volatili: NOR vs NAND
(Introduzione; L'operazione di lettura nelle memorie FLASH; L'operazione di scrittura nelle memorie FLASH; Cancellazione; Bibliografia)
Memorie Non-Volatili: Nuovi Concetti e Tecnologie Emergenti
(Introduzione; Limiti e prospettive della tecnologia Flash; Memorie Emergenti: concetti, architetture, materiali; Bibliografia)
Memory Card
(Introduzione; Descrizione di una Flash card; I vari standard e formati; Applicazioni multimediali; Bibliografia)
Multichip
(Introduzione; Un triplo stacked: dalla fattibilità ai campioni; Dai campioni alla produzione; Valutazione degli effetti elettrici del package; La signal integrity; Guida alla realizzazione di un substrato; La realizzazione di un'analisi di signal integrity; Spettro dei segnali digitali; Testing dei Multichip: osservabilità, controllabilità e affidabilità; Integrazione Verticale; Soluzioni tecnologiche avanzate; Bibliografia)
Gestione SW delle memorie flash: metodi e criticità
(Introduzione; Il software di data management per flash; Modalità di gestione software delle memorie flash; Code Storage; Problematiche comuni nella gestione software di memorie flash; Architetture SW; Disk Emulator; Bibliografia)
Codici a correzione d'errore
(Introduzione; Cause d'errore nelle memorie flash; I concetti base dell'ECC; Effetto dell'ECC sulla probabilità d'errore; Il codice di Hamming; Applicazioni: memoria Flash di tipo NOR; Applicazioni: memoria Flash NOR multilivello; Codifica di Hamming algoritmica per blocchi di grandi dimensioni; Conclusioni; Bibliografia)
Board Level Reliability
(Introduzione; Bend Test; Drop Test; Ciclatura termica; Bibliografia)
Affidabilità di sistemi wireless
(Introduzione; Modelli previsionali dell'affidabilità; Miglioramento dell'affidabilità; Dimostrazione dei livelli di affidabilità; Screening/burn in, difettosità e fault tolerance; Bibliografia)
Lettura di un Datasheet
(Introduzione; Il contenuto della prima pagina; La ball out e i blocchi funzionali; Le principali operazioni permesse; Maximun Rating e DC-AC parameters; Confronto dei parametri DC fra le memorie del multichip; Come leggere le timing e le tabelle AC; Tempistiche di lettura per una memoria di tipo NOR; Tempistiche di lettura per una memoria di tipo RAM; Tempistiche di lettura per una memoria di tipo NAND; Tempistiche di modifica per una memoria di tipo NOR; Tempistiche di modifica per una memoria di tipo RAM; Tempistiche di modifica per una memoria di tipo NAND; Dalle tempistiche al testing; Bibliografia)
Appendice
Collana: Scientifica
Argomenti: Ingegneria elettronica
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