Progettazione di memorie non volatili

Bruno Beverina , Il mercato delle memorie
Progettazione di memorie non volatili
(Aspetti fondamentali delle memorie non volatili; Programmazione; Cancellazione; Distribuzioni e ciclatura; Architettura della modalità di lettura, di scrittura, di cancellazione; Nozioni di affidabilità; Influenza della temperatura e della tensione di alimentazione; Le attività di laboratorio; Shmoo plots; Il testing)
Aspetti di processo
(Principali passi realizzativi per un processo CMOS)
Il transistore MOS e la cella di memoria
(Transistori a disposizione; La cella di memoria; Caratteristiche di lettura; La programmazione; Iniezione di portatori nella gate isolata; L'algoritmo di programmazione; La cancellazione; L'operazione di soft programming)
Componenti passivi
(Condensatori in tecnologia CMOS; Resistori integrati)
Blocchi circuitali fondamentali
(L'inverter NMOS e CMOS; Il CASCODE; Il differenziale; Il source follower; Riferimenti di tensione; Specchi di corrente; Schmitt trigger NMOS e CMOS; Latch traslatori di tensione; Circuiti di Power on Reset; Switch analogici; Il Bootstrap; Gli oscillatori; Circuiti per rilevare terzi livelli)
Il layout
(Un "tutorial" per la lettura di un layout custom; Una NAND a tre ingressi; Una NOR a tre ingressi; Un inverter interdigitato e un condensatore; Capacità parassite d'area e di perimetro; Un approccio strutturato al layout automatico)
L'organizzazione della matrice di memoria
(Le memorie EPROM; Organizzazione di una matrice Flash: i settori; Una matrice di settori; Matrici Flash senza contatti)
Il buffer di ingresso
(Sui livelli di ingresso e di uscita; Buffer d'ingresso; Esempi di buffer d'ingresso; Un nuovo problema)
Le decodifiche
(Decodifiche di riga; Una decodifica di riga NMOS; Una decodifica di riga CMOS(1); Una decodifica di riga CMOS(2); Una decodifica di riga CMOS dinamica; Una decodifica di riga CMOS semistatica; Decodifiche di riga per bassa tensione di alimentazione; La nostra decodifica di riga; La predecodifica di riga; La decodifica di settore; Spazio in memoria per il test: le righe OTP; Il boost: architettura; Per leggere ad 1.8V di alimentazione?; Aggiungiamo un margine di sicurezza; Il problema della ricarica di Cbooost; Due percorsi di boost; Progettiamo la circuiteria di boost; Progettiamo la circuiteria di BST_START; Decodifiche di riga gerarchiche; Decodifiche di colonna)
Circuiti per programmare e cancellare
(I primi dispositivi; Le pompe di carica; La pompa di gate per la cancellazione; La pompa di source e gli switch di massa; La pompa di gate, di drain ed il regolatore; Variazioni con la temperatura; Le operazioni di verifica; Il rivelatore di VCC: Vcclow)
Circuiti di sincronismo
(Generazione del segnale di ATD; Connettiamo la circuiteria di ATD e di boost; Reintegratori di carica; La circuiteria del segnale di ATD; Progettazione del segnale di fine lettura ENDREAD; Le celle utilizzate dai sense dummy e la loro decodifica di riga; Ulteriori indagini sul segnale di ENDREAD; La modalità di burst)
Circuiti di lettura
(Lettura differenziale a sbilanciamento dei carichi; Lettura differenziale ad offset di corrente; Lettura differenziale con caratteristiche parallele; Tecniche di equalizzazione dei nodi; La precarica; Clamping dei nodi di uscita VM e VR; Lettura differenziale con specchio di corrente; Abilitazione del circuito di conversione I/V; Incrementiamo la velocità di lettura; Ed ora la cella FLASH; Lettura di memorie FLASH in presenza di bit depleti; Lettura a bassa VCC; Lettura a bassa tensione di alimentazione; Definizione del boost e del riferimento; Problematiche del riferimento; Dimensionamento dello specchio principale; Analisi dinamica del Sense Amplifier; Precarica dello stadio di uscita del comparatore; Lettura di celle Flash multilivello)
La ridondanza
(La ridondanza: architettura e funzionamento; La ridondanza: dimensionamento; Le UPROM; La circuiteria delle UPROM; Codici a correzione d'errore)
Il buffer di uscita
(Buffer di uscita NMOS; Un super-buffer d'uscita CMOS; Il problema "High Voltage Tolerance"; Disturbi indotti da commutazioni: cura per la massa; Buffer di uscita in triplo_well e disturbi indotti sulla circuiteria di segnale)
Modalità di test
(Una panoramica sulle modalità di test; Test di DMA; Un DMA veloce; Test di integrità degli ossidi)
ESD & latch-up
(Qualche nota sui transistori bipolari; Latch-up; Bipolari non parassiti; Distribuzione delle alimentazioni e rete di protezione ESD)
Algoritmi per una memoria Flash
(La struttura della PLA; Algoritmi per una memoria Flash)
Dall'analisi delle specifiche alla definizione del "floorplan"
(Organizzazione della matrice; Dimensionamento della riga di matrice; Dimensionamento dei settori; Configurazioni della memoria; Organizzazione della decodifica di colonna; La ridondanza; Prime considerazioni sulla modalità di lettura; Architettura del riferimento; Problemi di lettura per una memoria non statica; La logica delle uscite e i circuiti di cancellazione-programmazione; Le pompe e i regolatori di gate; Il generatore di pseudoclock: ATD; La disposizione dei pad; La logica di controllo e la circuiteria di servizio)
Altri tipi di memorie
(Memorie SRAM; Memorie DRAM; Memorie EEPROM).

Serie: Scientifica